薄膜電容電容器溫度特性評估系統(tǒng)

產(chǎn)品型號：HCCT-40H

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-30

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HCCT-40H薄膜電容電容器溫度特性評估系統(tǒng)

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCCT-40H薄膜電容電容器溫度特性評估系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn)，系統(tǒng)通過準確控制溫度環(huán)境，并測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)（如電容量（C）、損耗因子（D）和阻抗（Z）等參數(shù)值），從而評估其溫度特性；該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠，適用于包括多層陶瓷電容器（MLCC）、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。

產(chǎn)品參數(shù)

測量項目：電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs，Rp) 和電感 (Ls，Lp)

測試方法：溫度特性評價試驗（相對于溫度的變化）

                  恒定運行檢測（相對于檢測時間的變化）

                  頻率特性評價試驗 （相對于頻率的變化）

通道配置：8通道（標準）；至多64通道可擴展8通道增量

測量方法：交流四端對測量

測量范圍：測量頻率：20 Hz ~ 1 MHz

                  電容量(C)：50 pF ~ 5 mF

                  損失因子(D)：0.00001 ~ 9.99999

                  阻抗(Z)：0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ

測量儀器：LCR表（可按需選擇型號）

直流偏壓：0 ~ ±40V

溫度測量間隔：1 ℃

掃描周期：64通道可在1min之內(nèi)完成

頻率步長：201步（范圍可定制）

補償：短時補償，開放補償

環(huán)境試驗系統(tǒng)控制：溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步，具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)

測量電纜：由聚四氟乙烯制成的同軸電纜（特性阻抗(Z)，50Ω，95 pF/m）