高溫介電溫譜測試儀

產(chǎn)品型號：HCWP

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2026-01-29

產(chǎn)品簡介：

華測儀器HCWP高溫介電溫譜測試儀

價格僅供參考，如需獲取更詳盡的產(chǎn)品技術(shù)規(guī)格書、定制方案或應(yīng)用案例，歡迎致電我司技術(shù)工程師

HCWP高溫介電溫譜測試儀由華測儀器生產(chǎn)，采用雙障蔽高頻測試線纜，提高測試參數(shù)的準確度，同時抗干擾能力更強。本設(shè)備可應(yīng)用于產(chǎn)品檢測以及新材料電學(xué)性能研究等用途。搭配Huacepro軟件，具備自定義測試功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。在過壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程正常進行；當遇到電腦異常或瞬時斷電時可將資料保存于操作器中，不丟失試驗數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動后可恢復(fù)原有試驗數(shù)據(jù)。

產(chǎn)品參數(shù)

模式選擇：根據(jù)等效電路可選擇并聯(lián)模式和串聯(lián)模式

測量方式：軟件可進行介電溫譜與介電頻譜測量

溫度設(shè)置：可設(shè)置升溫速度、降溫速度、溫度上限、測量等待時間等

測量頻率：軟件可設(shè)置測試的頻率

數(shù)據(jù)處理：測量數(shù)據(jù)生成Excel及pdf兩種文件格式

擴展能力：配合阻抗分析儀可實現(xiàn)高溫環(huán)境下的介電溫譜、頻譜測量

溫度范圍：RT~1450°C

控溫精度：±1℃

升溫速率：0~100℃/min（可設(shè)定）

測試頻率：10Hz~120MHz

加熱方式：近紅外加熱

降溫方式：水冷

輸入電壓：220V

樣品尺寸：D≤25mm，H≤4mm

電極材料：鉑金

夾具輔助材料：99氧化鋁陶瓷

絕緣材料：99氧化鋁陶瓷

測試功能：介電溫譜、頻譜

數(shù)據(jù)傳輸：4個USB接口

產(chǎn)品優(yōu)勢

1.高速加熱與降溫方式

紅外燈和鍍金反射方式允許高速加熱到高溫。同時爐體可配置水冷系統(tǒng)，增設(shè)氣體降溫裝置，可實現(xiàn)快速降溫。

2.溫度控制

近紅外鍍金聚焦爐和溫度執(zhí)行器的組合使用，可以準確控制樣品的溫度(遠比普通加溫方式)。

3.不同環(huán)境下的加熱與降溫

加熱/降溫可用真空、氣氛環(huán)境、低溫（惰性氣體靜態(tài)或流動），操作簡單，使用石英玻璃制成。紅外線可傳送到加熱/降溫室。