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多層陶瓷電容器溫度特性評估系統(tǒng)產(chǎn)品介紹

日期:2026-01-27瀏覽:55次

  多層陶瓷電容器溫度特性評估系統(tǒng)由華測儀器生產(chǎn),是將環(huán)境試驗箱與評估系統(tǒng)相結(jié)合,效率采集數(shù)據(jù)的自動化多通道系統(tǒng)。儀器自動評估高溫和高溫/高濕環(huán)境下電容器的絕緣退化特性。系統(tǒng)通過準(zhǔn)確控制溫度環(huán)境,并測量電容器在不同溫度下的關(guān)鍵參數(shù)(如電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z)等參數(shù)值),從而評估其溫度特性。該系統(tǒng)穩(wěn)定可靠,適用于包括多層陶瓷電容器(MLCC)、陶瓷電容、薄膜電容等各種類型的電容器。
 
  一、產(chǎn)品優(yōu)勢
 
  1、至多64個通道的自動測量
 
  可以測量不同溫度環(huán)境下的電容量(C)、損耗因子(D)和阻抗(Z),可選擇8個通道的倍數(shù),至多64個通道
 
  2、圖形功能允許實時查看測量結(jié)果
 
  收集的數(shù)據(jù),包括不同溫度、頻率和時間下的電特性值和變化率,可以通過各種圖形函數(shù)進(jìn)行實時審查
 
  3、可從不同測試模式選擇
 
  溫度特性評價試驗、恒定運行試驗和頻率特性試驗。測試可與溫度特性評價測試或恒定運行測試相合
 
  溫度特性評估測試:在此測試模式下,自動記錄特性數(shù)據(jù),并與溫度變化同步,頻率步數(shù)201步(范圍可定制)
 
  持續(xù)運行測試:測試模式測量以下參數(shù)的變化特定中隨時間推移的特征自動記錄數(shù)據(jù)
 
  頻率特性評價試驗:試驗?zāi)J皆谔囟囟拳h(huán)境下改變頻率的同時,自動記錄不同頻率下的特性數(shù)據(jù)
 
  4、多種可選夾具 適用于不同的試驗樣本(可選)
 
  除了SMD組件的專用夾具外,還提供了根據(jù)離散設(shè)備形狀定制的夾具
 
  二、產(chǎn)品參數(shù)
 
  測量項目:電容量 (C)、損耗系數(shù) (D)、阻抗 (Z)、電阻 (Rs,Rp) 和電感 (Ls,Lp)
 
  測試方法:溫度特性評價試驗(相對于溫度的變化)
 
  恒定運行檢測(相對于檢測時間的變化)
 
  頻率特性評價試驗 (相對于頻率的變化)
 
  通道配置:8通道(標(biāo)準(zhǔn));至多64通道可擴(kuò)展8通道增量
 
  測量方法:交流四端對測量
 
  測量范圍:測量頻率:20 Hz ~ 1 MHz
 
  電容量(C):50 pF ~ 5 mF
 
  損失因子(D):0.00001 ~ 9.99999
 
  阻抗(Z):0.00001Ω ~ 99.9999 MΩ
 
  測量儀器:LCR表(可按需選擇型號)
 
  直流偏壓:0 ~ ±40V
 
  溫度測量間隔:1 ℃
 
  掃描周期:64通道可在1min之內(nèi)完成
 
  頻率步長:201步(范圍可定制)
 
  補(bǔ)償:短時補(bǔ)償,開放補(bǔ)償
 
  環(huán)境試驗系統(tǒng)控制:溫度數(shù)據(jù)采集與測量和的溫度控制同步,具有RS-485功能的環(huán)境測試系統(tǒng)
 
  測量電纜:由聚四氟乙烯制成的同軸電纜(特性阻抗(Z),50Ω,95 pF/m)
 
  三、應(yīng)用領(lǐng)域
 
  通信與信息技術(shù):在通信設(shè)備和信息技術(shù)產(chǎn)品中,多通道電容器溫度特性評估系統(tǒng)可以提供測試方案,確保產(chǎn)品在各種溫度環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。
 
  電子材料:印刷電路板、通量、絕緣材料(樹脂、薄膜等)、介電材料(鈦、陶瓷、鉭、鋁電解材料等)。
 
  四、環(huán)境試驗箱(可定制)
 
  恒溫試驗箱
 
  迷你高低溫環(huán)境箱
 

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